Principios básicos
Es el significado de las siglas XRF.
Fluorescencia de Rayos X.
Es la fuente más común para generar radiación primaria en los equipos de XRF.
Tubo de rayos X.
Tipo de instrumentación que utiliza cristales para dispersar los rayos X según su longitud de onda (Ley de Bragg).
WDXRF (Dispersión por Longitud de Onda).
Según la presentación, es la fuente de donde provienen los errores más grandes en el análisis, más que del error estadístico.
Una mala toma o preparación de la muestra.
Aplicación industrial donde el XRF ayuda a identificar defectos microscópicos en materiales homogéneos como CDs.
Análisis de inclusiones y partículas.
Es la característica principal del análisis por XRF que permite estudiar obras de arte sin dañarlas.
Es una técnica no destructiva.
Componente que modifica el haz de rayos X (usando colimadores o cristales) para dirigirlo o seleccionar longitudes de onda.
La óptica.
Tipo de instrumentación mecánicamente más simple que mide directamente la energía de cada fotón.
EDXRF (Dispersión por Energía).
Material plástico de bajo número atómico (Low Z) usado comúnmente como ventana para muestras líquidas.
Mylar, Kapton o Polipropileno.
En geología, el análisis de este elemento en sedimentos marinos sirve como indicador de cambios climáticos históricos.
Titanio.
Según el principio de funcionamiento, esto sucede cuando la radiación ioniza los átomos de la muestra.
Expulsa electrones de sus capas internas.
Material semiconductor comúnmente utilizado dentro de los detectores para convertir la energía en pares electrón-hueco.
Silicio.
Técnica que utiliza un ángulo de incidencia muy bajo para minimizar el fondo y detectar ultratrazas.
TXRF (Reflexión Total).
Método utilizado para convertir muestras líquidas en "cuasi-sólidos" y evitar derrames o inestabilidad.
Uso de gelatina o agar (solidificación).
Aplicación en microelectrónica donde se mide con alta precisión capas de nanómetros (ej. Oro sobre Paladio).
Análisis de espesor de recubrimientos.
Es lo que se emite cuando un electrón de una capa superior salta para llenar una vacante en una capa inferior.
Un rayo X característico (o fluorescente).
Tipo de fuente que es compacta, no requiere electricidad y es ideal para equipos portátiles, aunque tiene menor intensidad.
Fuentes de Radioisótopos.
Variante de la técnica que utiliza ópticas (como capilares) para enfocar el haz en áreas microscópicas.
Micro-XRF.
Procesos mecánicos utilizados para homogeneizar muestras en polvo (mencione uno).
Trituración, molienda o pulverización.
Ventaja principal de la Micro-XRF sobre la Microsonda de Electrones (EPMA) al analizar muestras biológicas.
No requiere vacío ni que la muestra sea conductora.
Esta propiedad física de los rayos X emitidos es única para cada elemento y permite su identificación.
La energía o longitud de onda.
Tipo de fuente de "tercera generación" que ofrece una brillantez extremadamente alta, muy superior a los equipos de laboratorio.
Radiación Sincrotrón.
Innovación reciente que utiliza una disposición confocal para definir un microvolumen y hacer perfiles de profundidad ("cortar" virtualmente la muestra).
Micro-XRF 3D.
Razón por la cual se añaden aditivos como la quinhidrona a las muestras líquidas gelificadas.
Para evitar que la muestra se derrita bajo la intensidad del haz de rayos X.
Técnica avanzada mencionada para reconstruir la distribución elemental interna en 3D de muestras complejas como meteoritos.
Tomografía de Fluorescencia (o XFCMT).